arXiv:2505.00278v1 宣告类型: 新 摘要: 在半导体行业中，集成电路（IC）工艺扮演着至关重要的角色，随着复杂性的增加和市场期望的提升，需要改进产量。识别IC缺陷并将IC测试任务分配给合适的工程师可以提高效率并降低成本。尽管当前的研究强调故障定位或缺陷分类，但它们忽视了整合缺陷特征、历史故障以及工程师专长的洞察力，这限制了它们在提高IC处理方面的效果。为了解决这些挑战，我们提出了一种名为DeCo的创新方法，用于优化IC测试中的任务分配。DeCo从IC测试报告中构建了一种新型的缺陷感知图，捕捉共失效关系以增强缺陷区分能力，即使在缺陷数据稀缺的情况下也是如此。此外，它还为工程师和任务构建了缺陷感知表示，通过缺陷感知图上的局部和全局结构建模来强化这些表示。最后，一种基于对比的分配机制通过考虑工程师的技术水平和当前工作量，将测试任务配对给QA工程师，从而促进公平和高效的工作分配。在真实数据集上的实验表明，DeCo在不同的场景下实现了最高的任务处理成功率，超过80%，同时在稀缺或扩大缺陷数据的情况下也保持了平衡的工作负荷。此外，案例研究显示，DeCo能够为工程师分配潜在合适的任务，即使是对不熟悉的缺陷，突显了其作为AI驱动的解决方案在实际IC故障分析和任务处理中的潜力。