arXiv:2504.13376v2 通知类型: replace-cross 摘要：本研究探讨了变量嵌入问题，即将伊辛模型的变量映射到量子退火处理器的过程。这一动机源于量子退火器在解决适合其架构的问题时与非硬件原生拓扑结构的问题之间的性能差异。我们的研究有两个主要目标：i) 分析嵌入质量对D-Wave Systems量子退火器性能的影响，ii) 评估由D-Wave提供并广泛认可为文献中标准嵌入技术的Minorminer算法生成的嵌入的质量。针对第一个目标，我们的实验揭示了嵌入的平均链长与解决方案的相对误差之间存在明显的相关性。这强调了嵌入质量对量子退火性能的直接影响。对于第二个目标，我们专注于Minorminer技术，评估其嵌入问题的能力、生成的嵌入质量以及结果的稳健性。我们还将其性能与D-Wave开发的另一种算法（Clique Embedding）进行了比较，该算法是确定性的，并旨在将完全连接的伊辛模型嵌入到量子退火处理器中，用作最坏情况的基准。研究结果表明，Minorminer有显著改进的空间，因为它并未在所有情况下都优于最坏情况。