摘要
arXiv:2404.17871v4 通告类型: replace-cross
摘要:近年来,由深度学习(DL)技术驱动的软件系统在许多方面极大地便利了人们的生活。作为这些DL系统的核心,各种各样的DL库承担了底层的优化和计算任务。然而,就像传统软件一样,DL库并非免受错误的影响,这些错误可能会给用户的个人财产和安全带来严重威胁。研究DL库的特点、相关错误以及相应的测试方法对于增强DL系统的安全性并促进DL技术的广泛应用至关重要。本文概述了各种DL库相关的测试研究,讨论了现有方法的优点和缺点,并为DL库的应用提供了指导和参考。本文首先介绍了DL底层库的工作流程以及涉及三种类型的DL库(DL框架、DL编译器和DL硬件库)的特点。然后,本文提供了DL底层库错误和测试的定义。此外,本文总结了针对这些DL库的现有测试方法和工具,并分析了它们的有效性和局限性。本文还讨论了DL库测试目前面临的挑战,并概述了未来研究的潜在方向。