LLM2D
深度学习库测试:定义、方法和挑战
Deep Learning Library Testing: Definition, Methods and Challenges
作者: Xiaoyu Zhang, Weipeng Jiang, Chao Shen, Qi Li, Qian Wang, Chenhao Lin, Xiaohong Guan
发布日期: 2/5/2025
arXiv ID: oai:arXiv.org:2404.17871v3

摘要

arXiv:2404.17871v3 宣布类型: replace-cross 摘要:近年来,基于深度学习(DL)技术的软件系统在许多方面显著地改善了人们的生活。作为这些DL系统的基石,各种DL库负责进行底层的优化和计算。然而,就像传统软件一样,DL库也不免存在漏洞,这些漏洞可能会对用户的个人财产和安全构成严重威胁。研究DL库的特性和相关漏洞,以及相应的测试方法,对于增强DL系统的安全性和推动DL技术的广泛应用至关重要。本文提供了与各种DL库相关的测试研究概览,讨论现有方法的优点和缺点,并为DL库的应用提供指导和参考。本文首先介绍了DL底层库的工作流程,并介绍了三种类型的DL库——DL框架、DL编译器和DL硬件库——的特点。然后,本文为DL底层库定义了漏洞和测试方法。此外,本文总结了针对这些DL库的现有测试方法和工具,并分析了它们的有效性和局限性。本文还讨论了DL库测试中存在的现有挑战,并概述了未来研究的潜在方向。