LLM2D
基于差分变换器深度学习模型并结合像素级仪器响应函数提高荧光寿命参数估计精度
Enhancing Fluorescence Lifetime Parameter Estimation Accuracy with Differential Transformer Based Deep Learning Model Incorporating Pixelwise Instrument Response Function
作者: Ismail Erbas, Vikas Pandey, Navid Ibtehaj Nizam, Nanxue Yuan, Amit Verma, Margarida Barosso, Xavier Intes
发布日期: 11/27/2024
arXiv ID: oai:arXiv.org:2411.16896v1

摘要

荧光寿命成像(FLI)是一种重要的分子成像技术,可为生物医学应用提供独特的信息。FLI基于光子到达时间直方图的采集和处理。这些直方图的形状和时间偏移取决于许多因素,例如仪器响应函数(IRF)、光学特性和样品的形貌轮廓。已经开发了几种逆解算分析方法来计算潜在的荧光寿命参数,但大多数方法计算量大且耗时。因此,深度学习(DL)算法逐渐取代了荧光寿命参数估计中的计算方法。通常,DL模型使用简单的通过模拟或简单的实验(其中荧光团表面轮廓大多平坦)生成的数据集进行训练;因此,DL模型在具有复杂表面轮廓的样品(例如离体器官或体内完整动物)上的性能通常不佳。本文中,我们介绍了一种新的DL架构,该架构使用最先进的差分变换器编码器-解码器架构MFliNet(宏观FLI网络),它除了TPSF外还额外输入IRF,从而解决了光子到达时间分布中的差异。我们通过精心设计的复杂组织模拟体模和临床前体内癌症异种移植实验证明了该模型的性能。