在异常检测中，与正常数据相比，异常数据的稀缺性给有效利用深度神经网络表示来识别异常特征带来了挑战。从数据中心的视角来看，生成模型可以通过合成异常数据集来解决这种数据不平衡问题。尽管之前的研究试图增强缺陷生成的控制性和质量，但它们并没有考虑背景和缺陷之间的关系。由于缺陷取决于物体的背景（即物体的正常部分），仅仅训练缺陷区域无法利用背景信息，甚至生成的缺陷可能会依赖于掩码信息而产生偏差。此外，控制逻辑异常应考虑背景和缺陷区域之间的依赖关系（例如，橙汁瓶上的橙色缺陷）。本文提出了一种对背景和缺陷之间关系的建模方法，其中背景影响去噪缺陷；然而，反过来则不然。我们引入正则化项来将去噪背景与缺陷解耦。从解耦损失出发，我们利用DDIM反演重新思考缺陷生成，我们在目标正常图像上生成缺陷。此外，我们从理论上证明了我们的方法可以在具有不变背景的目标正常图像上生成缺陷。我们在几个实验中证明了我们合成数据的真实性和有效性。