LLM2D
半导体材料科学中的人工通用智能(AGI)火花:生成式AI辅助电子显微图像分析的前沿探索
Sparks of Artificial General Intelligence(AGI) in Semiconductor Material Science: Early Explorations into the Next Frontier of Generative AI-Assisted Electron Micrograph Analysis
发布日期: 9/20/2024
arXiv ID: oai:arXiv.org:2409.12244v1

摘要

arXiv:2409.12244v1 公告类型: 交叉 摘要: 利用电子显微镜图像对材料进行表征,由于纳米材料结构的复杂性,给自动化标注带来了重大挑战。为此,我们引入了一个全自动的端到端流程,利用生成式人工智能的最新进展。该流程旨在分析和理解半导体材料的微观结构,其有效性可与人类专家相媲美,有助于在纳米材料识别领域追求人工通用智能(AGI)。我们的方法结合了大型多模态模型(如GPT-4V)和文本到图像模型(如DALLE-3)。我们整合了GPT-4引导的视觉问答(VQA)方法来分析纳米材料图像,通过DALLE-3生成合成纳米材料图像,并利用GPT-4V中的少样本提示进行上下文学习,以实现准确的纳米材料识别。我们的方法通过提高纳米材料识别的精度和优化高通量筛选过程,超越了传统技术。