在材料物理学中，表征技术对于获取材料数据至关重要，这些数据涵盖了物理性质以及结构、电子、磁性、光学、介电和光谱特性。然而，对于许多材料来说，确保数据的可用性和安全访问并非易事，也并非完全有保障。此外，建模和仿真技术的使用需要大量的理论知识，并且与高昂的计算时间和复杂程度相关联。因此，使用不同的技术同时分析多个样品的材料，对于工程师和研究人员来说仍然是一个巨大的挑战。值得注意的是，虽然存在风险，但 X 射线衍射是一种公认且广泛使用的表征技术，它收集晶体 1d、2d 或 3d 材料的结构性质数据。本文提出了一种用于门控循环单元 (GRU) 模型的智能 GRU，用于预测二氧化锡 SnO$_2$(110) 薄膜的结构特征或性质。实际上，薄膜样品是通过实验精心制作和管理的，收集的数据字典随后被用于生成一个用于二氧化锡 SnO$_2$(110) 薄膜结构性质表征的 AI - 人工智能 - GRU 模型。