从扩散模型中采样可以被视为求解相应的常微分方程（ODE），目标是在尽可能少的函数评估次数（NFE）下获得精确解。最近，利用高阶 ODE 求解器的各种快速采样器已经出现，并取得了比最初的一阶方法更好的性能。然而，这些数值方法固有地会导致一定的近似误差，这使得在极小的 NFE（例如，大约 5）下样本质量显著下降。相比之下，基于每个采样轨迹几乎位于嵌入到环境空间中的二维子空间中的几何观察结果，我们提出了近似平均方向求解器（AMED-Solver），该求解器通过直接学习平均方向来消除截断误差，从而实现快速扩散采样。此外，我们的方法可以轻松用作插件来进一步改进现有的基于 ODE 的采样器。在分辨率从 32 到 512 的图像合成方面进行的大量实验证明了我们方法的有效性。仅使用 5 个 NFE，我们在 CIFAR-10 上实现了 6.61 FID，在 ImageNet 64×64 上实现了 10.74 FID，在 LSUN Bedroom 上实现了 13.20 FID。我们的代码可在 https://github.com/zju-pi/diff-sampler 获取。